濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗
 
1范圍
光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法
第18部分z濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗
本部分規(guī)定了濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。
本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件.
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T 12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容〉或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注目期的引用文件，其版本適用于本部分。
GB/T 12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第1部分z術(shù)語、試驗范圍(GB/T 12085.1-
2010,I50 9022-1.1994,MOD)
GB/T 12085.8光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第8部分2高壓、低壓、浸沒(GB/T 12085.8•
2010,I50 9022-8.1994,MOm
3試驗條件
在綜合作用力條件下對暴露的試樣進行的測試，要比任→種單一環(huán)境條件試驗更為嚴酷.
光學(xué)儀器抗?jié)駸岷蛢?nèi)低壓綜合試驗采用三種不同方法。
4條件試驗
4.1總貝11
試樣的各個部分都達到與試驗箱〈室〉的溫差在3K之內(nèi)開始試驗.試樣上允許出現(xiàn)凝露。各試驗步驟應(yīng)按預(yù)定順序依次進行。試驗過程不允許中斷.
4.2條件試驗方法47.濕熱和內(nèi)低壓，壓差低條件試驗方法47濕熱和內(nèi)低壓，壓差低按表1和圖L條件試驗方法47適用于密封性制造要求低(抗壓性低)的光學(xué)儀器.例如g符合GB/T 12085.8條
件試驗方法81中嚴酷等級為01、02、07和08的儀器.
 
 
 
4.4條件試驗方法49，濕熱和內(nèi)低壓，壓差高條件試驗方法49濕熱和內(nèi)低壓，壓差高按表3 0條件試驗方法49適用于密封性制造要求高(抗壓性低〉的光學(xué)儀器.例如2符合GB/T 12085.8條件試驗方法81中嚴酷等級為05、06、11、12和13要求的儀器。
 
5試驗設(shè)備
5.1適用于條件試驗方法47
5.1.1帶空氣環(huán)流的氣候試驗箱(室)0
5.1.2帶空氣環(huán)流的加熱或冷凍或類似試驗箱(室)0
5.1.3應(yīng)選擇試驗箱的尺寸及試樣的布局，以確保所有試樣的試驗條件一致.如果產(chǎn)生凝露，應(yīng)避免水滴落到試樣上.
5.2適用于條件試驗方法48
除具備條件試驗方法47的試驗設(shè)備外(見5.1.1)，還需要一個低壓容器.
5.3適用于條件試驗方法49除具備條件試驗方法47的試驗設(shè)備外(見5.1.1)，還需要一個連接器用于排氣及壓力測量，如GB/T 12085.8中的規(guī)定。
6試驗程序
6.1總則
試驗應(yīng)符合相關(guān)標準和GB/T 12085.1的要求。
6.2條件試驗方法47的試驗程序
6.2.1初始試驗1在試驗開始前，應(yīng)檢查所有試樣因裝配時濕度過大導(dǎo)致的潮濕.
試樣應(yīng)在溫度為-10'c的試驗箱內(nèi)充分冷卻，試樣各部分均應(yīng)達到試驗箱(室〉溫差3K以內(nèi)。然后，立即將試樣放入預(yù)熱過的溫度約40'c左右的試驗箱內(nèi)加熱。在加熱過程中，應(yīng)仔細觀察試樣，如果其內(nèi)部出現(xiàn)任何水霧濕氣，均應(yīng)立即除去。
6.2.2初始試驗2
為了建立內(nèi)部空氣循環(huán)期間的溫升時間，需在試樣內(nèi)部空氣間隔一定距離安裝數(shù)量合適的傳感器。這種測量的時間周期即加熱試驗箱的內(nèi)部空氣從步驟2到步驟l的按規(guī)定所達到試驗箱溫差3K以內(nèi).這一時間周期被認為是步驟1的暴露時間。如果用了幾個傳感器，則各測量的平均值為暴露時間。
6.2.3試驗條件1
按初始試驗2的步驟1規(guī)定的暴露時間應(yīng)保持在土10%.以避免由于過度暴露時間使儀器烘干。
對于小于20 m皿的暴露時間，允許公差為士2 mino從步驟1到步驟2或反之的切換應(yīng)足夠迅速，以確保試祥受到的溫度變化不大于3 Ko在試驗開始時，應(yīng)記錄從室溫到40"c所需的升溫時間.
6.2.4試驗條件2和試驗條件3在試驗條件1結(jié)束后，應(yīng)立即將試樣置于試驗條件2中，并切換到試驗條件3 0在條件3(中間檢測)升溫期間，應(yīng)不斷地觀察試樣，以便于確認儀器內(nèi)部光學(xué)表面的濕氣程度以及出現(xiàn)濕氣所需時間團
6.3條件試驗方法48的試驗程序
6.3.1初始試驗
按6.2.1所述進行初始試驗。
6.3.2試驗條件1
裝有試樣的低壓容器應(yīng)直接裝于濕度箱內(nèi)。將濕皮箱設(shè)置到步驟2中所述氣候條件。然后在低壓容器內(nèi)設(shè)置與所需嚴酷等級相應(yīng)的低壓值，并在步驟1所要求的暴露時間中維持這一低壓。在切換到步驟2時，低壓箱內(nèi)的排氣將用濕度箱內(nèi)的空氣循環(huán)實現(xiàn)。當(dāng)?shù)蛪合浯蜷_時，應(yīng)使試樣維持在步驟2中所述氣候條件下的規(guī)定暴露時間。以上步驟重復(fù)2次或5次(3個或6個循環(huán)〉。6.3.3試驗條件2和試驗條件3試驗條件2和試驗條件3應(yīng)按6.2.4所述進行.
6.4條件試驗方法49的試驗程序
6.4.1初始試驗
按6.2.1所述進行初始試驗。
在達到試驗條件1的試驗溫度后，對試樣進行排氣。在持續(xù)規(guī)定的暴露時間后，應(yīng)將試樣密封，并存放在與試驗條件2所規(guī)定的暴露時間相同的氣候條件下。
6.4.2試驗條件3和試驗條件4按6.2.4中試驗條件2和試驗條件3所述進行。
6.5初始和最后檢測將試樣對著暗背景放大6X或10X目視檢測。檢測用的照明采用帶反光鏡及聚光鏡的鹵素?zé)?功率至少100 W)組成的光源裝置，或形成平行光的類似儀器.試樣在室溫下存放24 h以后，用放大率150X或更大倍率，采用合適的光源(如功率為7.5 W的îilí.燈).在人射光暗場中對被拆光學(xué)元件的表面
進行檢測，觀察在其光學(xué)表面出現(xiàn)的任何特性變化及變化程度。
7環(huán)境試驗標記
環(huán)境試驗標記應(yīng)符合GB/T 12085.1的有關(guān)規(guī)定。
示例:光學(xué)儀器抗?jié)駸岷蛢?nèi)低壓綜合環(huán)境試驗，壓差高，條件試驗方法49、嚴酷等級03、工作狀態(tài)1的標記為2
環(huán)境試驗GB/T 12085-49-03-1
8有關(guān)標準應(yīng)包括的內(nèi)容
a)環(huán)境試驗標記;
b)試樣數(shù)量;
c)溫度傳感器在試樣上的位置g
d)預(yù)處理s
e)初始檢測的內(nèi)容和范圍p
D試樣時間的確定g
g)恢復(fù)p
h)最后檢測的內(nèi)容和范圍3
0評價判據(jù)g
j)試驗報告的內(nèi)容和范圍。
A.1條件試驗方法47
 
(資料性附錄〉
注釋
條件試驗方法47是用來形成試樣經(jīng)歷的類似條件，例如，在強陽光與強降雨之間頻繁變換的氣候條件。密封性差的儀器特別遭受風(fēng)險是由于濕氣的滲透。內(nèi)低壓就是由于溫度變化所致.
A.2條件試驗方法48
條件試驗方法48是用來模擬試樣經(jīng)歷的環(huán)境條件，例如，試樣在空運中的環(huán)境條件.在飛機飛行過程中，貨物艙內(nèi)的氣壓可低達50 kPa，當(dāng)飛機在高度潮濕環(huán)境著陸時，儀器內(nèi)部氣壓平衡會引起濕氣滲透，尤其會進入中等密封的儀器。
A.3條件試驗方法49
條件試驗方法49不是用于模擬自然界的環(huán)境條件，其主要用于確認在密封性要求很高的儀器中密封性與濕度的關(guān)系。